粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測(cè)試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器、電阻式顆粒計(jì)數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。

　　下面讓我們來(lái)詳細(xì)的了解一下粒度儀的分類(lèi)吧。

　　1、激光粒度儀

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀由自主研發(fā)的會(huì)聚光傅立葉變換光路和無(wú)約束自由擬合是數(shù)據(jù)處理軟件組成，可檢測(cè)顆粒大小及分布，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個(gè)波段。

　　其測(cè)試顆粒大小及分布時(shí)采用的分散系統(tǒng)根據(jù)不同的測(cè)試要求分為濕法分散系統(tǒng)、干法分散系統(tǒng)和干濕一體分散系統(tǒng)。

　　當(dāng)光線(xiàn)照射到顆粒上時(shí)會(huì)發(fā)生散射、衍射，其衍射、散射光強(qiáng)度均與粒子的大小有關(guān)。觀(guān)測(cè)其光強(qiáng)度，可應(yīng)用Fraunhofer 衍射理論和Mie 散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/ 散射法)，使用Mie 散射理論進(jìn)行計(jì)算。光入射到球形粒子時(shí)可產(chǎn)生三類(lèi)光:第一類(lèi)，在粒子表面、通過(guò)粒子內(nèi)部、經(jīng)粒子內(nèi)表面的反射光;第二類(lèi)，通過(guò)粒子內(nèi)部而折射出的光;第三類(lèi)，在表面的衍射光。這些現(xiàn)象與粒子的大小無(wú)關(guān)，全都可以作為光散射處理。

　　一般地，光散射現(xiàn)象可以用經(jīng)Maxwell 電磁方程式嚴(yán)密解出的Mie 散射理論說(shuō)明。但是，實(shí)際使用起來(lái)過(guò)于復(fù)雜，為了求得實(shí)際的光強(qiáng)度，可根據(jù)入射波長(zhǎng)λ和粒子半徑r 的關(guān)系，即:r<λ時(shí)，Rayleigh 散射理論;r>λ時(shí)，F(xiàn)raunhofer 衍射理論。在使用上述理論時(shí)，應(yīng)考慮到光的波長(zhǎng)和粒徑的關(guān)系，在不同的領(lǐng)域使用不同的理論。

　　粒徑大于波長(zhǎng)的時(shí)候，由Fraunhofer 衍射理論求得的衍射光強(qiáng)度和Mie散射理論求得的散射光強(qiáng)度大體是一致的。因此，可以把Fraunhofer 衍射理論作為Mie 散射理論的近似處理。這時(shí)，光散射(衍射)的方向幾乎都集中在前方，其強(qiáng)度與粒子徑的大小有關(guān)，有很大的變化。即表示粒子徑固有的光強(qiáng)度譜，解出粒子的光強(qiáng)度分布(散射譜)就可以定出粒子徑。當(dāng)波長(zhǎng)和粒子徑很接近的時(shí)候，不能用Fraunhofer 的近似式來(lái)表示散射強(qiáng)度。這時(shí)有必要根據(jù)Mie 散射理論作進(jìn)一步討論。在Mie散射中的散射光強(qiáng)度由入射光波長(zhǎng)、粒子徑、粒子和介質(zhì)的相對(duì)折射率來(lái)確定。

　　2、顆粒圖像儀

　　顆粒圖像儀擁有靜態(tài)、動(dòng)態(tài)兩種測(cè)試方法。

　　靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)，配合高清晰攝像機(jī)，將顆粒樣品的圖像直觀(guān)的反映到電腦屏幕上，配合相關(guān)的計(jì)算機(jī)軟件可進(jìn)行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計(jì)算，并可以將測(cè)試結(jié)果輸出為報(bào)告。

　　動(dòng)態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷